Рентгеновский анализатор покрытий iEDX-150WT

Пункт Детали
Рентгеновская трубка Мишень Mo / Rh / W / Ag (опция), 50 кВп, 1 мА
Система обнаружения Si-Pin диод (опция: SDD, FSDD)
Разрешение энергии Si-Pin диод: 149 эВ на полувысоте при Mn Kα / Опция: SDD (125 эВ), FSDD (122 эВ)
Коллиматор Коллиматор 0,3 (опция: 0,05, 0,1, 0,2, 0,3, 1 мм)
Ручная / автоматическая смена ступени

Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Многослойная широкая печатная плата
Расстояние перемещения 200 мм X 250 мм X 14 мм / 500 мм X 500 мм X 14 мм
Размер сцены 473 мм X 525 мм / 520 мм X 520 мм
Ключевая особенность
Автоматический / ручной режим сцены

Измерение толщины покрытия: Общие, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni

Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев)

Увеличение камеры 40 ~ 80 х
Безопасность 3-точечная блокировка
Тип отчета
Excel, PDF / вывод

Пользовательская форма

Ключевые преимущества
Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев)

Удобное управление сценой

Возможно многоточечное измерение

Скрининг RoHS (опция)

Удаленная поддержка через Интернет

заявка
Проверка продукции на соответствие международным экологическим нормам (соответствие RoHS, WEEE, ELV)

Опасные материалы (Cr, Br, Cd, Hg, Pb, Cl, Sb, Sn, S) Оборудование для сортировки

Анализ покрытия автомобильных деталей, Электронная плата (PCB), например, конденсатор

Анализ однослойного, многослойного, легированного покрытия

Толщина с соотношением состава может быть измерена во времени в металлизации сплава

Аналитическое оборудование по применению
Элементный анализ золота и благородных металлов
Анализ металлов и сплавов
Анализ толщин слоев покрытий, напылений и пленок
Аналитическое оборудование по методу анализа РФА энергодисперсионный