Рентгеновский спектрометр анализатор толщин слоев iEDX-750T

Пункт Детали
Рентгеновская трубка Мишень Mo / Rh / W / Ag (опция), 50 кВп, 1 мА
Система обнаружения FSDD (Быстрый кремниевый детектор тяги)
Разрешение энергии Детектор типа Si (FSDD) 122 эВ на полувысоте при Mn Kα
Коллиматор Поликапиллярная оптика (Focal Spot 15um / 30um) FWHM
Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Широкая печатная плата
Размер оборудования 2600 X 1350 X 2050 мм (Ш x Г x В)
415 X 510 мм PCB / 810 X 610 мм PCB
Измеряемый размер печатной платы 415X510 мм
610X510 мм

810X610 мм (Ш × Г)

Полезность
Питание: однофазное 220 В, 4 кВт

Давление воздуха: 5 кгс

Ключевая особенность
Общее измерение толщины покрытия, Rh, Pd, Au, Ag, Sn, Ni

Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев)

Увеличение камеры 40 ~ 80 х
Устройство защиты от радиоактивности Устройство отключения автомата 3
Тип отчета
Excel, PDF / вывод

Пользовательская форма

Ключевые преимущества
Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев)

Удобное управление сценой

Возможно многоточечное измерение

Применение
ENIG, ENEPIG, HDI

Электронная плата (PCB)

Анализ точного содержания при измерении толщины покрытия

Аналитическое оборудование по применению
Элементный анализ золота и благородных металлов
Анализ металлов и сплавов
Анализ толщин слоев покрытий, напылений и пленок
Аналитическое оборудование по методу анализа РФА энергодисперсионный