Сканирующий растровый электронный микроскоп SS-300 - это модель, предназначенная для исследования крупных образцов и наблюдения изображений поверхности при большом увеличении до 300,000х и разрешении 3 нм. В качестве анода используется либо вольфрамовая нить, либо нить LaB6. Функционал микроскопа расширяется с помощью множества различных функций.
Спецификация
SS-300 SERIES
Модель SS-300-SA SS-300-DA
Ⅰ. Характеристики
1 Детектор SE SE+BSE
2 Платформа X,Y(50мм), R(360˚),
Z (0~60мм), Tilt(-20~90˚)
icon 5-осевая ручная X,Y(50мм), R(360˚),
Z (0~60мм), Tilt(-20~90˚)
icon 5-осевая моторизованная
3 Разрешение 3 нм
4 Ускоряющее напряжение 0.5~30 кВ
5 Увеличение 10x~300,000x
6 Макс размер образца 140(D) x 60(H) мм
Ⅱ. Электронная оптика
1 Электронная пушка Вольфрамовый(W), LaB6 нить накала
2 Апертура(O.L) Переменного типа (30/50/50/100 мкм)
3 Сдвиг пучка X.Y 100㎛ (±50)
Ⅲ. Система изображений
1 Дисплей 22 дюйм LCD
2 Формат BMP,JPEG,PNG,TIFF
3 OS Windows10
4 Режим сканирования 320×240,640×480,1280×960,2560×1280,5120×3840
5 Автоматизация Автофокус, контрастность и яркость, стигматор, выравнивание пушки(с помощью катушки выравнивания)
Ⅴ. Вакуум
1 Режим вакуума Высокий вакуум Высокий + низкий вакуум
2 Насос Начальный вакуум: роторный насос(100 л),
Высокий вакуум: турбомолекулярный насос (80л) / Полная автоматизация
Ⅵ. Размеры
1 SEM 746(W)x696(D)x1411мм, 250кг
2 Rotary Pump 400(W)x160(D)x340(H)мм, 24кг
Ⅶ. Дополнительно
1 SEM CCD CAMERA(Navigation mode), Chamber CAMERA, Analysis Joystick Controller
2 Опция EDS, WDS, EBSD, CL(Cathodoluminescent) Image, Cooling Stage, STEM Detector
Аналитическое оборудование по методу анализа Сканирующая электронно-растровая микроскопия
Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование...
Промышленный микроскоп XSK-600. Epi-осветитель и большое рабочее расстояние;...
Определение параметров концентрации озона
Измерение концентрации озона в воде...